突破極限！最新雷射技術可於1.36公里外讀取毫米級文字

中國科學技術大學與國際團隊開發出一套革命性的雷射系統，採用「主動強度干涉測量術」(AII)技術，能在複雜環境中實現超遠距高解析度成像。這項突破性進展將為未來監控與偵查技術帶來革命性變革。

這項技術源自天文物理學領域，原本用於測量極微小的角度距離。研究團隊巧妙改良後，使其具備八大獨立相位雷射發射器，能產生可控的「擬熱光」照明。這種創新設計有效模擬了熱光的統計特性，同時保持高度可控性與可重複性。

實際運作時，系統會將雷射光束射向遠距離目標，再透過多組望遠鏡記錄反射光強度。研究團隊開發的特殊演演算法能將這些資料轉換成極度精細的影像，其解析度甚至能突破傳統光學系統的繞射極限。

最令人驚艷的是，這套系統成功克服了大氣擾動與光學瑕疵的影響。在實際測試中，研究團隊在1.36公里外的都會區環境中，成功辨識出僅有3毫米大小的目標物，解析度較單一望遠鏡的繞射極限提升了14倍之多。

這項突破性技術不僅適用於天文觀測，未來更可望應用於國防監控、環境遙測等特殊場域。雖然系統仍需進一步最佳化，但其展現的潛力已為長距離高解析度成像開啟嶄新篇章。相關研究成果已刊登於《物理評論快報》。